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표면 매개변수 도구는 측지 메소드를 사용하여 경사면 방향, 경사, 곡률과 같은 래스터 표면의 매개변수를 계산합니다.
결과는 호스팅 영상 레이어입니다.
예시
표면 매개변수 도구는 다음 시나리오에서 사용할 수 있습니다.
- 측지 메소드를 사용하여 경사면 방향 및 경사를 계산합니다.
- 측지 메소드를 사용하여 다양한 유형의 곡률을 계산합니다. 예를 들어 표면 전반에서 흐름의 지형 수렴 및 발산을 특성화하는 접선 곡률을 계산할 수 있습니다.
사용 참고사항
표면 매개변수에는 입력 레이어, 표면 매개변수 설정, 결과 레이어에 대한 구성이 포함됩니다.
입력 레이어
입력 레이어 그룹에는 다음 매개변수가 포함됩니다.
입력 표면 래스터는 계산에 사용될 표면 래스터입니다.
z 단위가 입력 래스터의 수직 좌표체계로 제공되는 경우에는 자동으로 적용됩니다. z 단위가 정의되지 않은 경우에는 기본 설정에 따라 미터가 사용됩니다.
옵션 레이어 그룹에는 다음 매개변수가 포함됩니다.
입력 분석 마스크 래스터 또는 피처는 분석이 발생할 위치를 지정합니다. 래스터 또는 피처일 수 있습니다. 레이어 버튼을 사용하여 레이어를 선택하거나 입력 피처 그리기 버튼을 사용하여 입력으로 사용할 스케치 레이어를 생성할 수 있습니다.
입력이 피처인 경우 이는 포인트, 라인, 폴리곤 유형일 수 있습니다.
입력이 래스터인 경우 이는 정수 또는 부동 소수점 유형일 수 있습니다. 입력 마스크 데이터가 래스터인 경우 분석은 0을 포함하여 유효한 값이 있는 위치에서 발생합니다. 마스크 입력에서 NoData인 셀은 결과에서 NoData가 됩니다.
입력 표면 래스터 및 입력 분석 마스크 래스터 또는 피처 매개변수 값의 셀 크기가 동일하고 셀이 정렬된 경우 도구에서 직접 사용됩니다. 도구 작업 중에는 내부적으로 리샘플링되지 않습니다.
셀 크기가 다른 경우 결과 셀 크기는 입력의 최대값이며 입력 표면 래스터 값이 스냅 래스터로 내부적으로 사용됩니다. 셀 크기가 동일하지만 셀이 정렬되지 않은 경우 입력 표면 래스터 값은 스냅 래스터로 내부적으로 사용됩니다. 이러한 경우는 추출 작업을 수행하기 전에 내부 리샘플링을 수행합니다. 자세한 내용은 셀 크기 및 스냅 래스터 환경 항목을 참고하세요.
입력 분석 마스크 래스터 또는 피처는 마스크 환경 설정보다 우선합니다.
표면 매개변수 설정
표면 매개변수 설정 그룹에는 다음 매개변수가 포함됩니다.
매개변수 유형은 계산될 표면 매개변수 유형을 지정합니다.
사용 가능한 각 표면 매개변수 유형은 대상 셀 주변의 로컬 표면에 맞게 조정되어 셀 단위로 계산됩니다. 모든 곡률 유형 결과의 단위는 결과 좌표계 x, y 단위의 역수(가우시안 곡률에 대한 역수의 제곱)입니다. 다음과 같은 옵션을 사용할 수 있습니다.
- 경사 — DEM의 첫 번째 파생물인 고도의 변화율이 계산됩니다. 경사 결과의 값 범위는 경사 측정 매개변수에 대해 지정된 단위에 따라 다릅니다. 이 옵션이 기본 설정입니다.
- 경사면 방향 — 각 셀에 대한 최대 변화율의 내리막 방향이 계산됩니다. 결과는 각 위치별로 내리막 경사가 향한 나침반 방향을 나타냅니다. 북쪽에서 시계 방향으로 측정한 0~360도 범위의 양수 각도로 표시됩니다.
- 평균 곡률 — 표면의 전체 곡률이 측정됩니다. 최소 및 최대 곡률의 평균으로 계산됩니다. 이 곡률은 방향이나 중력의 영향에 관계없이 표면의 고유 볼록성 또는 오목성을 나타냅니다. 높은 양수 값은 최대 노출 영역을 나타내고 높은 음수 값은 최대 누적 영역을 나타냅니다(Minár et al., 2020).
- 접선(일반적인 등고선) 곡률 — 경사 라인에 수직이고 등고선 라인에 접선하는 일반적인 지오메트리 곡률이 측정됩니다. 이 곡률은 일반적으로 표면 전반에서 흐름의 수렴 또는 발산을 특성화하는 데 적용됩니다. 양수 값은 발산하는 표면 흐름 영역을 나타냅니다. 음수 접선 곡률은 수렴하는 표면 흐름 영역을 나타냅니다. 양수 접선(일반적인 등고선) 곡률은 표면이 경사 방향에 수직인 해당 셀에서 볼록함을 나타냅니다. 음수 곡률은 표면이 경사에 수직인 방향으로 해당 셀에서 오목함을 나타냅니다. 값이 0이면 표면이 평평함을 나타냅니다.
- 프로파일(투영된 윤곽선) 곡률 — 경사 라인을 따라 일반적인 지오메트리 곡률이 측정됩니다. 이 곡률은 일반적으로 표면 아래 흐름의 가속 및 감속을 특성화하는 데 적용됩니다. 양수 값은 표면 흐름 및 침식의 가속 영역을 나타냅니다. 음수 프로파일 곡률은 느린 표면 흐름 및 퇴적 영역을 나타냅니다. 양수 프로파일(일반적인 경사 라인) 곡률은 표면이 경사 방향으로 해당 셀에서 볼록함을 나타냅니다. 음수 곡률은 표면이 동일한 방향으로 해당 셀에서 오목함을 나타냅니다. 값이 0이면 표면이 평평함을 나타냅니다.
- 평면(투영된 등고선) 곡률 — 등고선을 따라 곡률이 측정됩니다.
- 등고선 측지 비틀림 — 등고선을 따라 경사 각도의 변화율이 측정됩니다.
- 가우시안 곡률 — 표면의 전체 곡률이 측정됩니다. 최소 및 최대 곡률의 곱으로 계산됩니다. 양수 값은 표면이 해당 셀에서 볼록함을 나타내고 음수 값은 오목함을 나타냅니다. 값이 0이면 표면이 평평함을 나타냅니다.
- 카소라티 곡률 — 표면의 일반 곡률이 측정됩니다. 0 또는 기타 양수일 수 있습니다. 0 또는 항상 양수일 수 있습니다. 높은 양수 값은 여러 방향으로 급격하게 구부러진 영역을 나타냅니다.
경사 측정은 결과 경사 래스터에 사용될 측정 단위를 지정합니다.
이 매개변수는 매개변수 유형 매개변수가 경사로 설정된 경우에만 사용할 수 있습니다. 다음과 같은 옵션을 사용할 수 있습니다.
- 도 — 경사 값의 범위는 0~90도입니다.
- 퍼센트 증가 — 범위는 0에서 무한대(본질적으로)까지입니다. 평평한 표면이 0퍼센트, 45도 표면이 100퍼센트이며 표면이 점점 더 수직 상태가 될수록 퍼센트 값도 커집니다.
측지 방위각 투영은 결과 공간 기준 체계로 인한 각도 왜곡을 보정하기 위해 측지 방위각을 투영할지 여부를 지정합니다.
이 매개변수는 매개변수 유형 매개변수가 경사면 방향으로 설정된 경우에만 사용할 수 있습니다.
- 선택하지 않음 — 측지 방위각이 투영되지 않습니다. 이 옵션이 기본 설정입니다.
- 선택 — 측지 방위각이 투영됩니다. 이 경우 북쪽은 항상 360도로 표시되며 비등각 결과 좌표계 환경 설정으로 인한 왜곡을 수정하기 위해 방위각이 투영됩니다. 이 각도는 가장 가파른 하강 경사를 따라 포인트를 정확하게 찾는 데 사용할 수 있습니다. 인접도 사용 도구집합의 도구에 대한 입력 역방향 래스터 매개변수에 대한 역방향 입력으로 표면 매개변수 도구 결과를 사용하는 경우 측지 방위각 투영 매개변수를 확인합니다.
적도 경사면 방향 사용은 경사면 방향을 적도의 한 포인트에서 측정할지 아니면 북극에서 측정할지 여부를 지정합니다.
이 매개변수는 매개변수 유형 매개변수가 경사면 방향으로 설정된 경우에만 사용할 수 있습니다.
- 선택하지 않음 — 경사면 방향이 북극에서 측정됩니다. 이 옵션이 기본 설정입니다.
- 선택 — 극에 접근할 때 발생하는 방향의 왜곡을 수정하기 위해 적도를 따라 하나의 포인트에서 경사면 방향이 측정됩니다. 이 매개변수는 남북 및 동서 축이 서로 수직이 되도록 합니다. 터레인이 북극 또는 남극 근처에 있는 경우 이 옵션을 사용합니다.
로컬 표면 유형은 대상 셀 주위에 맞게 조정될 표면 함수의 유형을 지정합니다. 다음과 같은 옵션을 사용할 수 있습니다.
이차 — 이차 표면 함수가 인접 영역 셀에 맞춰 조정됩니다. 이 표면 함수는 인접 영역 셀에 정확히 맞게 조정되지는 않으며, 대부분의 데이터 및 응용프로그램에 권장됩니다. 이 옵션이 기본 설정입니다.
이차 표면은 곡률을 계산할 때 특히 중요한 입력 표면 래스터의 노이즈 영향을 최소화합니다.
셀 크기보다 큰 인접 영역 거리 매개변수를 통해 인접 영역 크기를 지정할 때 및 적응형 인접 영역 옵션을 사용할 때 이 옵션을 사용합니다.
사차 — 사차 표면 함수가 인접 영역 셀에 맞춰 조정됩니다.
이 옵션은 매우 정확한 입력 표면에 적합합니다.
인접 영역 거리가 입력 래스터 셀 크기보다 큰 경우 사차 표면 유형의 정확도 장점이 손실됩니다. 인접 영역 거리를 기본값으로 둡니다(셀 크기와 동일).
인접 영역 거리는 결과가 계산될 대상 셀 중심으로부터의 거리입니다. 이에 따라 인접 영역의 크기가 결정됩니다.
기본값은 입력 래스터 셀 크기이므로 인접 영역의 크기는 3x3이 됩니다. 이는 입력 래스터 셀 크기보다 작을 수 없습니다. 셀 크기의 홀수 간격이 발생하지 않는 인접 영역 거리가 지정된 경우, 셀 크기의 다음 간격으로 반올림됩니다. 또한 가장 큰 인접 영역 거리는 셀 크기의 7배와 같으므로 15x15 셀 창이 됩니다. 셀 크기의 7배보다 더 큰 지정 거리는 항상 15x15 셀 창을 사용합니다.
인접 영역 거리가 작을수록 더 작은 경관 피처의 특성인 경관의 지역적 변동성을 더 많이 포착합니다. 고해상도 고도 데이터를 사용하면 거리가 멀수록 더 적합할 수 있습니다.
적응형 인접 영역 사용은 인접 영역 거리가 경관 변화에 따라 달라지는지 여부를 지정합니다. 계산 창에 변동성이 너무 많으면 인접 영역 거리가 축소됩니다. 최대 거리는 인접 영역 거리 매개변수 값으로 결정됩니다.
최소 거리는 입력 래스터 셀 크기입니다.
- 선택하지 않음 — 단일(고정) 인접 영역 거리가 모든 위치에서 사용됩니다. 이 옵션이 기본 설정입니다.
- 선택 — 적응형 인접 영역 거리가 모든 위치에서 사용됩니다.
Z 단위는 수직 z 값의 선형 단위를 지정합니다.
수직 좌표계가 존재하는 경우 이 좌표계로 정의됩니다. 수직 좌표계가 존재하지 않는 경우 z 단위는 단위 목록에서 정의되어야 측지 계산이 정확하게 수행됩니다. 기본값은 미터입니다. 사용 가능한 선형 단위는 인치, 피트, 야드, 마일(US), 해리, 밀리미터, 데시미터, 센티미터, 미터, 킬로미터입니다.
결과 레이어
결과 레이어 그룹에는 다음 매개변수가 포함됩니다.
결과 래스터 이름은 지정된 표면 매개변수 유형 값을 포함하는 래스터의 이름입니다.
이름은 고유해야 합니다. 기관에 동일한 이름의 레이어가 이미 있는 경우 도구를 사용할 수 없으며 다른 이름을 사용하라는 메시지가 표시됩니다.
- 폴더에 저장은 결과가 저장되는 내 콘텐츠의 폴더 이름을 지정합니다.
환경
분석 환경 설정은 도구의 결과에 영향을 주는 추가 매개변수입니다. 환경 설정 매개변수 그룹에서 도구의 분석 환경 설정에 접근할 수 있습니다.
이 도구는 다음과 같은 분석 환경을 적용합니다.
결과
결과는 지정된 표면 매개변수 유형 값이 있는 하나의 결과 래스터입니다.
사용 요구사항
이 도구에는 다음과 같은 라이선싱 및 구성이 필요합니다.
- Creator 또는 GIS Professional 사용자 유형
- Publisher, Administrator 역할 또는 동급의 사용자 설정 역할
- 래스터 분석을 위해 구성된 ArcGIS Image Server
참조
- James D.E., M.D. Tomer, S.A. Porter. 2014. "Trans-scalar landform segmentation from high-resolution digital elevation models." Poster presented at: ESRI Annual Users Conference; July 2014; San Diego, California.
- Minár, J., Evans, I. S., & Jenčo, M. 2020. "A comprehensive system of definitions of land surface (topographic) curvatures, with implications for their application in geoscience modelling and prediction". Earth-Science Reviews, 103414. https://doi.org/10.1016/j.earscirev.2020.103414
리소스
다음과 같은 리소스를 사용하여 자세히 알아보세요.
- 표면 매개변수 작동 방식
- ArcGIS REST API의 표면 매개변수
- Raster Analysis 익스텐션이 포함된 ArcGIS Pro의 표면 매개변수
- Spatial Analyst 익스텐션이 포함된 ArcGIS Pro의 표면 매개변수